Plans d'échantillonnage double par mesures avec une seule limite de tolérance et une caractéristique de qualité normalement distribuée
Revue de Statistique Appliquée, Tome 26 (1978) no. 1, pp. 45-57
Sturhahn, Jürgen. Plans d'échantillonnage double par mesures avec une seule limite de tolérance et une caractéristique de qualité normalement distribuée. Revue de Statistique Appliquée, Tome 26 (1978) no. 1, pp. 45-57. http://geodesic.mathdoc.fr/item/RSA_1978__26_1_45_0/
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JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 1978
SP  - 45
EP  - 57
VL  - 26
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PB  - Société de Statistique de France
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