Revue de Statistique Appliquée, Tome 22 (1974) no. 3, pp. 43-67
Citer cet article
Ligeron, J. C.; Goarin, R. Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques. Revue de Statistique Appliquée, Tome 22 (1974) no. 3, pp. 43-67. http://geodesic.mathdoc.fr/item/RSA_1974__22_3_43_0/
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TY - JOUR
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AU - Goarin, R.
TI - Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques
JO - Revue de Statistique Appliquée
PY - 1974
SP - 43
EP - 67
VL - 22
IS - 3
PB - Société de Statistique de France
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