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@article{RSA_1974__22_3_43_0,
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TY - JOUR AU - Ligeron, J. C. AU - Goarin, R. TI - Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques JO - Revue de Statistique Appliquée PY - 1974 SP - 43 EP - 67 VL - 22 IS - 3 PB - Société de Statistique de France UR - http://geodesic.mathdoc.fr/item/RSA_1974__22_3_43_0/ LA - fr ID - RSA_1974__22_3_43_0 ER -
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Ligeron, J. C.; Goarin, R. Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques. Revue de Statistique Appliquée, Tome 22 (1974) no. 3, pp. 43-67. http://geodesic.mathdoc.fr/item/RSA_1974__22_3_43_0/