Voir la notice de l'article provenant de la source Math-Net.Ru
[1] Vasilev F. P., Chislennye metody resheniya ekstremalnykh zadach, Nauka, M., 1980 | MR
[2] Zhivotnikov G. S., “O zadache optimalnogo otsenivaniya parametrov ob'ekta po ego izobrazheniyu”, Matematicheskie metody raspoznavaniya obrazov, Doklady XI Vserossiiskoi konferentsii, M., 2003
[3] Zakharchenko A. A., Morfologicheskie metody izmereniya relefa poverkhnosti s pomoschyu opticheskogo mikroskopa, Dis. $\dots$ kand. fiz.-mat. nauk, M., 2006
[4] Zakharchenko A. A., Chulichkov A. I., “Izmerenie mikrorelefa poverkhnosti po naboru izobrazhenii s razlichnym polozheniem fokusa”, Izmeritelnaya tekhnika, no. 1, 2007, 14–17
[5] Pytev Yu. P., “Morfologicheskii analiz izobrazhenii”, DAN SSSR, 269:5 (1983), 1061–1064 | MR | Zbl
[6] Pytev Yu. P., “Zadachi morfologicheskogo analiza izobrazhenii”, Matematicheskie metody issledovaniya prirodnykh resursov Zemli iz kosmosa, Nauka, M., 1984 | MR
[7] Pytev Yu. P., Metody matematicheskogo modelirovaniya izmeritelno-vychislitelnykh sistem, Fizmatlit, M., 2002 | MR | Zbl
[8] Chulichkov A. I., Osnovy teorii izmeritelno-vychislitelnykh sistem. Stokhasticheskie lineinye izmeritelno-vychislitelnye sistemy, Izd-vo Tambovskogo gos. tekh. un-ta, Tambov, 2000
[9] Chulichkov A. I., Kulichkov S. N., Dëmin D. S., “Otsenki otnositelnogo vremeni zaderzhki signalov, osnovannye na analize ikh formy”, Vestn. Mosk. un-ta. Ser. 3. Fizika, astronomiya, 2007, no. 6, 17–21 | MR
[10] Chulichkov A. I., Morozova I. V., “Klassifikatsiya razmytykh izobrazhenii i otsenka parametrov sistemy registratsii metodami morfologicheskogo analiza”, Intellekt. sist., 9:1–4 (2005), 321–344
[11] The MathWorks, Optimization Toolbox User's Guide, 2008