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Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques
Revue de Statistique Appliquée, Tome 31 (1983) no. 2, pp. 19-42 Cet article a éte moissonné depuis la source Numdam

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TY  - JOUR
AU  - Ringler, J.
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JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 1983
SP  - 19
EP  - 42
VL  - 31
IS  - 2
PB  - Société de Statistique de France
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