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Ampiezze di vibrazione degli atomi superficiali del silicio
Atti della Accademia nazionale dei Lincei. Rendiconti della Classe di scienze fisiche, matematiche e naturali, Série 8, Tome 48 (1970) no. 2, pp. 242-249

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Atomic mean square displacements at the Si(III) surface have been determined by means of the low-energy electron diffraction. The experimental value of the mean square displacement in the normal direction is greater than the theoretical values derived from pure radial or radial and angular force constant models. This may be attributed to the rearrangement of the top layer atoms, which affects the surface lattice dynamics. 
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