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Determinazioni di costanti reticolari dall'angolo di equi-inclinazione
Atti della Accademia nazionale dei Lincei. Rendiconti della Classe di scienze fisiche, matematiche e naturali, Série 8, Tome 43 (1967) no. 1-2, pp. 96-100 Cet article a éte moissonné depuis la source Biblioteca Digitale Italiana di Matematica

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A method is given for determining the lattice parameter along the Weissenberg rotation axis, for non-triclinic crystals. The lattice constant is derived for each layer from the equi-inclination formula, the $\mu$ angle being precisely settled on the basis of the deviations from linearity of the «central» lattice lines. Besides, a method for enhancing the misalignment of the crystal is given, which uses oscillation photographs of the highest recordable layer line. In this way it is possible to measure practically the double of the tilt angle. 
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JO  - Atti della Accademia nazionale dei Lincei. Rendiconti della Classe di scienze fisiche, matematiche e naturali
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[1] International Tables for X-ray Crystallography, vol. III, Kynoch Press, Birmingham (1962).

[2] M. J. Buerger, X-ray Crystallography, John Wiley, New York (1942).

[3] D. Sayre, A method for setting the equi-inclination angle, «Acta Cryst.», 7, 516 (1954).