TY  - JOUR
AU  - M. A. Alekhina
AU  - V. V. Kurysheva
TI  - On reliability of circuits in a basis “anticonjunction” with constant faults at the input gates
JO  - Izvestiâ vysših učebnyh zavedenij. Matematika
PY  - 2016
SP  - 3
EP  - 9
IS  - 7
UR  - http://geodesic.mathdoc.fr/item/IVM_2016_7_a0/
LA  - ru
ID  - IVM_2016_7_a0
ER  -